2018-2019 Pier Giorgio Merli (S)TEM SCHOOL IN MATERIALS SCIENCE
The first theoretical part of the School (November 19-23, 2018) will start with a presentation of the elements of electron optics needed to introduce the TEM/STEM working principles and will continue with a comprehensive lesson on radiation damage to warn the students of the downsides and the possible artefacts of these powerful investigation techniques. Some essential aspects of the theory of the electron diffraction will then be used to describe the elastic interaction of the electron beam with the crystalline sample and the electron microscopy techniques that immediately follow: Selected Area and Convergent Beam Electron Diffraction (SAED and CBED). Examples of their application for crystallographic phases identification and strain determination will be illustrated. Basic crystallography notions will be also recalled in a specific lesson. The contrast mechanisms in TEM and STEM (diffraction, phase and mass-thickness) will be successively presented for their importance in studies of lattice defects, nanoparticles and nanotubes in solids and devices. In recent year, TEM/STEM imaging techniques have attained atomic resolution for all the materials of interest in materials science. In our course, a unique theory of image formation will be used to describe both the coherent (HREM) and incoherent (HAADF-STEM) approach to these high resolution techniques. The main aspects of the inelastic interaction of the electron beam with the sample will be presented to describe the two essential analytical techniques for compositional analysis: EDS and EELS. Finally, electron holography and interferometric methods will be introduced to show either the possibility to record the phase of the electron wave and to determine electric potential variations inside the samples or as alternative techniques in phase analysis and strain determination.
In the second week (February 4-8, 2019), what learnt during the first half of the school will be put into practice. Students, under teacher’s supervision, will be allowed to directly operate on the 200 kV Schottky FEG TEM-STEM (FEI Tecnai F20 ST) installed at the CNR-IMM Institute. During this week, students will be also trained to the use of some of the available simulation and data processing software essential for TEM/STEM work. Selected presentations of new products by representatives of TEM/STEM manufacturers, sample preparation instruments and accessories for electron microscopy are also planned.
At the end of the School a certificate of attendance will be given to all the participants and upon request a certificate of the acquired skills, that may be also used for obtaining academic credits, may be issued after passing a written examination.
As participation to the School is open to people from all countries the official language is English.
Important notice: participants may choose to attend either the whole course or the theoretical part only (it is not possible to register for the practical course only). As to the practical course, to guarantee enough operating time to all the students, the maximum number of participants is limited to 10. The School will take place only if a minimum number of 6 registrations to both the theoretical and practical courses will be reached.
Corso di Microscopia Confocale ed Elettronica SEM e (S)TEM
Il Dipartimento di Scienze della Vita ed il Centro Interdipartimentale Grandi Strumenti (C.I.G.S.) dell’Università degli Studi di Modena e Reggio Emilia, in collaborazione con la Società Italiana di Immunobiologia Comparata e dello Sviluppo (SIICS) e la Società Italiana di Scienze Microscopiche (SISM), organizzano il “14° Corso di Microscopia Confocale: Basi Teoriche e Pratiche” ed il “7°Corso di Microscopia Elettronica SEM e S(T)EM: Basi Teoriche e Pratiche”. Il primo corso è indirizzato a tutti coloro che siano interessati ad acquisire gli elementi di base necessari per utilizzare la microscopia confocale in ambito biologico ed ha la finalità di apprendere metodiche e procedure utili ad acquisire immagini informative e di qualità. Nella prima giornata, il corso prevede lezioni teoriche in aula e sessioni pratiche sullo strumento, incluso un nuovo microscopio rovesciato Leica DMi8 con AFC e XYZ motorizzati, utile anche a metodiche che necessitino di FLIM o di super-risoluzione. La seconda giornata di corso sarà incentrata sull’utilizzo e sulla gestione delle immagini digitali, con esercitazioni svolte individualmente al computer. Il secondo corso è indirizzato a tutti coloro che sono interessati ad acquisire gli elementi di base necessari per utilizzare la microscopia elettronica a scansione (anche in modalità S(T)EM con detector per elettroni trasmessi) soprattutto in ambito biomedico. Il corso prevede lezioni sull’utilizzo e sulla gestione delle immagini digitali, con esercitazioni svolte al computer, lezioni teoriche in aula e sessioni pratiche sullo strumento, al fine di apprendere le metodiche e le procedure per acquisire immagini informative e di qualità.
Microscopia e Imaging negli alimenti e nella nutraceutica
L’evento viene organizzato dalla Società Italiana di Scienze Microscopiche, con il supporto del Dipartimento di Scienze Biomolecolari dell’Università degli Studi di Urbino Carlo Bo e con il patrocinio della Società Italiana di Istochimica. E’ dedicato a professionisti, docenti, ricercatori, tecnici, studenti e a realtà aziendali che operano nel campo delle microscopie applicate agli alimenti e alla nutraceutica. Relatori in aula presenteranno i loro risultati ottenuti utilizzando le varie microscopie (ottica, elettronica TEM/SEM/ESEM/EDAX, microscopia confocale, immunocitochimica, microscopie a sonda...... ) e tecniche di imaging specifico (TAC, NMR .... ) nello studio di alimenti e di modelli di nutraceutica di vario tipo . Oltre a relazioni in aula si terranno esercitazioni pratiche nei laboratori del Campus Scientifico e nel laboratorio ESEM presso l'ARPAM di Pesaro. Ci saranno infine interventi tecnico- strumentali di aziende interessate, oltre ad una sessione poster .
SCANNING ELECTRON MICROSCOPY IN MATERIALS SCIENCE
La scuola, organizzata dalla SISM e dall'Istituto CNR-IMM di Bologna, intende fornire i concetti e i principi fisici di base per l’utilizzo delle tecniche di microscopia elettronica a scansione e di microanalisi nell’ambito della scienza dei materiali. La scuola è rivolta a ricercatori, tecnici e studenti che intendano acquisire le competenze necessarie per il corretto utilizzo della microscopia elettronica a scansione (SEM), delle tecniche analitiche ad essa correlate e dei fasci ionici focalizzati (FIB) per lo studio e la caratterizzazione dei materiali. La scuola prevede sia lezioni teoriche che sessioni pratiche che prevedono di operare alle facilities strumentali di IMM Bologna che comprendono un SEM-FEG ed un SEM ambientale. E' inoltre prevista una sessione dimostrativa di utilizzo di strumentazione FIB/EBL, installata in ambiente controllato (Clean Room).
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