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Eventi SISM

Single Particle Analysis - Centro Nacional de Biotecnologia, CSIC

Madrid, Spain, 19-23 February 2007

Course Objectives: To provide knowledge of image processing methods for single-particle analysis, classification, two-dimensional averaging and three-dimensional reconstruction. Discussion of different examples, including non-symmetric particles as well as symmetric ones (icosahedral viruses). Entry Level: Basic knowledge of microscopy and computer handling Location: Length: 5 working days Starting days: 19-23 February 2007 Practice hrs: 20 Theory hrs: 20 Number of participants: Min. 5 Max. 10 Course material: Handout with Lectures and Practical exercises Certification: Certificate of Attendance Examination: No Contents: Cryo-electron microscopy of biological macromolecular aggregates. Digital Image processing. Two-dimensional analysis: classification and averaging. Three-dimensional reconstruction of single particles. Three-dimensional reconstruction of symmetric particles: Icosahedral viruses.

Email: jlcarras@cnb.uam.es



8th Multinational Congress on Microscopy

Praga - 17-21 June 2007

The Congress takes place every second year. While the first five congresses were termed Multinational Congress on Electron Microscopy (MCEM), the name of the congress was changed in 2003 to the Multinational Congress on Microscopy (MCM) in order to stress the wider scope of the congress, and to include all varieties of microscopy. The 8MCM will comprise scientific sessions consisting of plenary lectures, invited lectures, selected oral presentations and poster presentations, as well as trade exhibition and social events. The participation of PhD students and young scientists will be facilitated by providing a discounted registration fee and a number of fellowships (in collaboration with microscopy-related companies and EMS). The aims of the 8MCM are: to allow the scientists to present their recent scientific results obtained using microscopy methods to discuss latest theoretical and instrumental advances of various microscopy techniques to foster advanced knowledge on materials and biological samples preparation to widen personal contacts for future scientific cooperation and networking to provide a platform for presentation of newest technologies by microscopy-related companies The organizing committee and the Czechoslovak Microscopy Society cordially invite our colleagues from the participating societies and fellow microscopists from around the globe to participate in the Congress, and to enjoy the company of colleagues in scientific discussions and during the social events of the Congress. The Congress takes place in one of the most modern parts of Prague that is directly attached to the well-known charming old town. We hope that this setting will contribute to the success of the Congress.

Email: hh@ccl.cz



Acquisizione, elaborazione, archiviazione e trasmissione delle immagini in microscopia

Sala Mimose ENEA Centro Ricerche Casaccia Via Anguillarese, 301 Roma 9-10 ottobre 2007

Nell’era dei computer e delle immagini digitali, anche il mondo della microscopia è diventato più semplice, ma non bisogna dimenticare che l’incessante progredire strumentale e tecnologico che, in campo scientifico, apre frontiere fino a pochi anni fa inimmaginabili verso applicazioni sempre nuove e sempre più numerose, pone nuove problematiche per padroneggiare in termini professionali le nuove soluzioni tecnologiche. Basti pensare alle nuove potenzialità di indagine dei moderni microscopi, alla capacità di ricostruzione di immagini e modelli tridimensionali, alla possibilità di utilizzare e visualizzare preparati utilizzando strumentazioni situate anche a migliaia di chilometri di distanza.

Email: montone@casaccia.enea.it



Microscopia Elettronica a Scansione in Scienza dei Materiali

LECCE - 10-14 Dicembre 2007

Dal 10 al 14 Dicembre 2007 si terrà a Lecce, presso il campus dell’Università del Salento, una scuola avanzata teorico sperimentale di microscopia elettronica a scansione (SEM) in scienza dei materiali. La scuola, rivolta a tecnici e ricercatori, affronterà gli argomenti più recenti nell’ambito dello studio dei materiali tramite il microscopio elettronico a scansione. Nella prima parte della scuola, verranno trattati gli argomenti fondamentali relativi al SEM con metodologie d’immagine avanzate e spettroscopia a raggi X dispersi in energia (EDS). Grazie alla presenza di un ampio parco macchine nel campus universitario salentino ed alla collaborazione delle principali ditte del settore, sono previste sessioni pratiche con 6 strumenti allo stato dell’arte, con un numero massimo di 4 utilizzatori per strumento. In questa fase sarà inoltre possibile esaminare campioni portati dai partecipanti.

Email: massimo.catalano@le.imm.cnr.it



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