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Eventi SISM

Scuola teorico-pratica di microscopia elettronica a trasmissione ed elaborazione di immagini

Modena , C.I.G.S. (Universitá degli Studi di Modena e Reggio Emilia)
15-17 giugno 2011

La scuola, organizzata dalla SISM in collaborazione con il Centro Interdipartimentale Grandi Strumenti, ha come obiettivo quello di fornire principi e tecniche di base per l’utilizzo del microscopio elettronico a trasmissione ed è rivolta a ricercatori, studenti e tecnici che sono interessati alla sua applicazione in ambito biomedico e dei materiali. La scuola prevede una parte teorica sul TEM (principi di base sulla formazione dell’immagine, segnali, microanalisi), alcune lezioni sulle modalitá e problematiche legate alla preparazione dei campioni e lezioni di base sui principi e tecniche di elaborazione delle immagini digitali. La scuola sarà organizzata con lezioni teoriche e pratiche presso le aule e i laboratori del CIGS e comprende anche esercitazionidi analisi di immagini in un laboratorio di informatica.

Email: andrea.tombesi@unimore.it

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Scuola teorico-pratico di Microscopia Elettronica a Scansione in Scienza dei Materiali

Roma, ENEA C.R. Casaccia
4-6 ottobre 2011

La scuola, organizzata dalla SISM in collaborazione con l’ENEA, tratterà i principi della microscopia elettronica a scansione e le sue applicazioni nel campo della Scienza dei Materiali ed è rivolta a ricercatori, studenti e tecnici interessati alla microscopia e a chi opera nel campo dei materiali. La scuola prevede una parte teorica sul SEM (elementi di ottica elettronica, interazione elettrone-materia, rivelatori e segnali, microanalisi); una parte pratica ai microscopi elettronici a scansione ( sia a pressione variabile con filamento LaB6 e microanalisi a raggi X sia FEG ad alta risoluzione) e presentazioni di novità strumentali. I microscopi sono corredati da sistemi di condivisione e controllo remoto per l'acquisizione delle immagini attraverso la rete web. Verrà illustrata la procedura di utilizzo delle apparecchiature in modalità remota da parte di utenti esterni. E’ possibile osservare campioni portati dai partecipanti. La scuola sarà organizzata con lezioni teoriche e pratiche presso i laboratori dell’ENEA C.R. Casaccia per la durata di tre giorni e di una sessione in remoto per l’osservazione dei campioni portati dai partecipanti attraverso la condivisione del microscopio via web. E’ previsto un test di valutazione finale per gli studenti interessati a richiedere il riconoscimento di crediti formativi universitari (CFU).

Email: amelia.montone@enea.it

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Scuola Avanzata di Microscopia a Scansione di Sonda

Bologna, CNR-ISMN, ISOF
28 novembre - 2 dicembre

La scuola Avanzata di Microscopia a Scansione di Sonda (Advanced Scanning Probe Microscopy - Advanced SPM) si prefigge lo scopo di insegnare gli aspetti teorici e pratici delle tecniche a scansione di sonda più specifiche. Esse vengono utilizzate per studiare le proprietà chimico/fisiche superfciali quali, ad esempio, la distribuzione della carica elettrica (Phase-EFM - Microscopia a Forza Elettrica misurata mediante la fase), la distribuzione del potenziale elettrico (KPFM - Microscopia di Forza a Sonda Kelvin) e la risposta meccanica (Fase della Microscopia a Forza Atomica, Microscopia a Forza Laterale, Microscopia a Forza Atomica Bimodale). La scuola può essere considerata adatta a tutte le persone che hanno conoscenza della microscopia SPM e sono interessati ad approfondirla o ad espandere le capacità d'uso del proprio microscopio. La scuola avrà la durata di 5 giorni. I primi due giorni saranno dedicati alla teoria, mentre i restanti giorni alla parte sperimentale

Email: c.albonetti@bo.ismn.cnr.it

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http://www.bo.ismn.cnr.it/boAspm/

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